世界最高リニアリティ ±0.015%F.S.
先進の光学系と高剛性ボディにより、かってないリニアリティを実現。
新開発イメージセンサ
・CDX専用設計のイメージセンサ”ATMOS”を新開発。
・先従来比2.7倍の高精度化を実現。
フィードバックレスの高速シャッター
・ワークの色が変化して受光量が変化した瞬間、シャッターへのフォードバック制御が追い付かず、一瞬測定不能になり遅れて応答してしまいます。
・”ATMOS”では、業界初のアルゴリズムによりフィードバック制御不要で測定することが可能。
・一瞬の測定不能や応答の遅れがないので、リアルタイム測定をが可能。
レーザクラス1でも安定測定
・”ATMOS”は、その高い受高感度によりクラス1レーザでも安定した測定が可能。
・黒色ワーク測定時でも、高出力のレーザを使用することなく高精度に測定が可能。
高速測定:サンプリング周期 Max.12.5μs
・”ATMOS”なら、測定に必要な露光時間を最小限にできるため、シャッタの超高速化が可能。
・サンプリング周期が最大12.5μsと従来比1/8に向上したため、超高速測定が要求される用途にもご利用できます。
コントローラを使わず、直接ネットワークに接続可能。
・センサヘッドにEthernet通信機能を内蔵しているので、コントローラなしでネットワークに接続することが可能。
共通仕様
モード | 拡散反射モード/正反射モード |
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光源 | 赤色半導体レーザ、波長655nm、最大出力0.39mW |
レーザークラス | JIS//IEC クラス1、FDA クラス1 |
分解能 | CDX-85:0.1μm CDX-150:0.2μm |
繰返精度 | CDX-85:0.1μm CDX-150:0.2μm |
サンプリング周期 | 12.5μm/25μm/50μm/100μm/200μm/500μm/1ms/Auto |